原子力顯微鏡通用型 AFM5100N

簡要描述：原子力顯微鏡通用型 AFM5100N

AFM5100N除了激光檢測方式之外，全新的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。

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品牌	其他品牌	產地類別	進口
應用領域	電子/電池

原子力顯微鏡通用型 AFM5100N特色

1. 簡便的懸臂安裝
通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。

5. 緊湊的主機上包含減震臺、隔音罩、光學顯微鏡等附件，安裝緊湊，體積小巧。

6. *的擴展功能通過激光檢測方式，能夠擴展各種各樣的選配功能。另外，只要插拔一根電纜就能夠切換成激光檢測方式。

原子力顯微鏡通用型 AFM5100N規格

檢測方式	激光檢測方式/自檢測方式
樣品尺寸	大35 mmφ、厚度10 mm（配件厚度擴展至20 mm）
掃描范圍	20 µm/1.5 µmH（水平/垂直） 100 µm/15 µmH 150 µm/5 µmH 110 µm/6 µmH（閉環差控制）
定位顯微鏡	搭載CCD的變焦顯微鏡光學顯微鏡金相顯微鏡（可以選配）
減震方式	臺式減震臺落地式減震臺（可以選配）
操作畫面	搭載流程圖的操作導航系統
檢測功能	DFM（dynamic force mode） CURRENT、SSRM、SNDM、PRM、KFM PM（相位模式）（可以選配）
擴展功能	AFM、STM、SIS、FFM、LM-FFM、VE-AFM/DFM、Adhision、CURRENT、KFM、PRM、SNDM、SSRM、EFM、MFM