原子力顯微鏡環境型 AFM5300E

簡要描述：原子力顯微鏡環境型 AFM5300E

AFM5300E是一款環境型原子力顯微鏡，它的環境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環境中進行測量。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。

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品牌	其他品牌	產地類別	進口
應用領域	電子/電池

原子力顯微鏡環境型 AFM5300E特色

AFM5300E能夠實現高真空的測試環境，大限度減小樣品表面吸附水對測試的影響，實現精確的物理特性測量。真空環境下可以實現更大范圍的溫度控制。另外，新開發的『溫度掃描功能』可監視樣品Z方向的熱脹冷縮，通過控制反饋信號，使懸臂在變溫環境下連續測試樣品表面的物理特性。

（zhuanli3857581號、zhuanli3926638號）

●大氣中　●液體中　●真空中　●特殊氣氛（流量控制）
●溫度控制加熱？冷卻(-120～300℃)　高溫(室溫～800℃)
●濕度控制(0～80%)
●外加磁場（水平、垂直、面內旋轉、max5000 Oe ）（使用選配項）

通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』，樣品和掃描器更換更為方便的同時，免去了以往環境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調整。也省去測試模式切換時的支架更換環節。

采用了『Swing Cancel功能』，減輕了樣品的浮動，降低了漂移。提高了納米分析性能，提升了可信度。漂移量：0.015nm/sec以下

真空環境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響，因而實現高分辨高靈敏的電學性能分析。

原子力顯微鏡環境型 AFM5300E規格

分辨率	原子相
樣品尺寸	20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴展至20 mm)
樣品移動范圍	X-Y stage 5 mm
掃描范圍	標準： 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH（閉環差控制）定位顯微鏡 • 簡易顯微鏡（×200倍） • 光學顯微鏡（×1000倍） • 變焦顯微鏡（×700倍） • 金相顯微鏡（裝有微分干渉）（×2000倍）
檢測功能	AFM（接觸模式） DFM（輕敲模式） PM（相位） FFM（摩擦） MFM（磁力） SIS模式 LM-FFM（橫向摩擦） VE-AFM/DFM（粘彈性） Adhesion（吸附力） CURRENT（電流） SSRM（擴展抵抗） SNDM（非線性介電常數） PRM（壓電響應）、KFM（表面電位）液體中AFM/DFM EC-AFM/STM NanoIndentation（硬度） Nano-TA（微區加熱）
選配件	高溫加熱樣品臺加熱冷卻兼用樣品臺冷卻真空溫度控制