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| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 場發射 | 應用領域 | 電子/電池 |
透射電子顯微鏡 HT7700特色
熒光屏相機和CCD主相機
可在明亮的環境下操作透射電鏡，在顯示器上直接觀測熒光屏相機的圖像，方便尋找目標樣品。
目標區域高速自動回溯功能
所有拍攝的圖片將全部保存在圖像數據庫中，并以縮略圖方式顯示，每張縮略圖均包含所有圖像的屬性信息。點擊任意一張縮略圖，并選擇“Auto drive”，樣品臺將自動回溯到此圖像拍攝時的位置。
全視野圖像導航（Whole View）和軌跡記錄功能
全視野圖像導航功能（Whole View），可以直接獲取微柵全景圖，便于更加直觀地進行圖像導航。軌跡記錄功能可標示樣品臺的移動軌跡。樣品臺記憶功能可保存多達 100 個坐標， 并可自動移動至坐標位置。
自動預輻照功能 （Auto Pre-Irradiation,API）
自動預輻照功能（API）可快速穩定樣品，防止漂移，尤其對觀測電子束敏感的樣品或不穩定的樣品有極大幫助。自動預輻照有多種操作模式（全景式掃描（Whole Scan）、邊框式掃描（Frame Scan）、區域式掃描（Area Scan））。用戶可選擇單種或多種模式組合，以達到*預輻照效果。
觀測區域的損傷痕跡（左），通過使用API 功能后，損傷痕跡可基本消除（右）。 API 功能可有效減少觀測過程中的樣品損傷和樣品漂移。
自動漂移校正功能
樣品觀測時，由于樣品臺移動慣性或局部熱脹冷縮，可能會導致樣品漂移。自動漂移校正功能可對漂移量進行檢測 并給予校正。通過自動漂移校正功能，在各種觀察條件下均可獲取高清晰圖像。
自動拼圖功能可獲取高像素的大視野圖像
雙隙物鏡
三維重構功能（選配）
HT7700的馬達臺具有很高的穩定性，其自動傾斜角度可達±70 °，結合日立*的重構算法——包含TBR （Topography Based Reconstruction） 等多種重構算法——可獲得高精度的三維重構結果。
雙軸三維重構（選配）
將樣品沿著α-β雙軸方向傾轉獲得的圖像結合起來，采用日立*的重構軟件進行處理，可以獲得誤差更小、更精確的三維重構形貌圖。
掃描透射觀察設備（STEM）（選配）
明場（BF） 和暗場（DF） 檢測器可以安裝在HT7700上對樣品進行STEM 分析。在BF-STEM 模式下色差系數減小，可以獲得清晰的高襯度圖像。高靈敏度的DF-STEM 檢測器，可高效檢測到散射電子，提高樣品Z 襯度。配合能譜EDX使用，可同時獲得多種元素的成分面分布圖。
高分辨透鏡EXALENS （選配）
EXALENS 是為HT7700設計的新型物鏡，低球差的高分辨透鏡EXALENS，分辨率可達0.144 nm（晶格像、加速電壓120 kV）。 EXALENS在較低的加速電壓下仍可進行低損傷、高分辨成像，特別適用于軟材料、碳材料和高分子材料等領域的研究。
滿足不同應用需求的多種樣品桿（選配）
根據不同的需求，用戶不僅可以選擇日立自主研發的各種功能的樣品桿（下圖所示），而且還可以選用其他廠商制造的冷凍，加熱，原位等多種樣品桿產品。
透射電子顯微鏡 HT7700規格
| 項目 | 說明 | |
|---|---|---|
| 分辨率(晶格像) | 0.204 nm (100 kV) [EXALENS為0.144 nm(120 kV)：選配件] （的相機上保證分辨率） | |
| 放大倍數 | 變焦 | ×200 - ×200,000 (高對比度模式) ×4,000 - ×600,000 (高分辨率模式) (無圖像旋轉) [×200 - ×300,000 (高對比度模式) ×2,000 - ×800,000 (高分辨率模式) for EXALENS:選配件] |
| 低倍率模式 | ×50 - ×1,000 | |
| 加速電壓 | 40 - 120 kV (zui小100 V/步長 可變) | |
| 樣品臺 | 優中心測角馬達臺 | |
| 主相機 | 800萬像素(縱橫比 = 3 : 4) 也可安裝其他照相機。 | |
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