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光-電聯用顯微鏡法（CLEM）系統 MirrorCLEM是一個可簡便觀察光學顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM*1用系統。

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場發射透射電子顯微鏡 HF-3300 日立的冷場發射電子源和300 kV加速電壓技術共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術，空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術開辟了高效，高精度樣品分析的新途徑。

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掃描電子顯微鏡 FlexSEM100 Hitachi的掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000「良好的SEM設計得更加緊湊」 只有45厘米寬的緊湊型設計，實現了4.0 nm的分辨率。 全新開發的用戶界面和電子光學系統，使性能大幅提升。

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球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700 掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司（總經理Max Haider先生）共同開發的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級納米技術研究。

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透射電子顯微鏡HT7800系列 ～從生物醫學到材料領域～ 以創新的操作性，滿足廣泛領域的需求。 新一代TEM“RuliTEM“誕生。

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透射電子顯微鏡 HT7700 日立HT7700 : 數字一體化的TEM操作平臺，操作簡便的通用性設計 HT7700優異的高反差、高分辨圖像觀察與強大的分析擴展功能，可為生物醫學、醫藥、食品、農業、高分子、化學、納米材料等多領域提供*的TEM解決方案。