SONIX超聲顯微鏡能夠檢測材料的哪些缺陷

　　SONIX超聲顯微鏡在觀察案成電路和生物組織方面，顯示出比光學員微鏡還要*的特點。SONIX超聲顯微鏡是利用超聲波來獲得集成電路和生物組織的顯微圖象的，其分濟率可與光學顯微鏡相抗衡，而且對比變更高。即使1μ線寬的線也能清晰地拍攝下來。
 

　　SONIX超聲顯微鏡是一種新一代的超聲檢測設備，能夠對很多半導體材料的細微缺陷進行精確的檢測，其工作原理通過不同的材料對聲波的阻抗不同，對超聲波的吸收和反射程度不同，從而得到一些微觀層面的檢測結果，超聲掃描顯微鏡買什么牌子好不重要而重要的是其檢測能力。下面就來詳細介紹一下SONIX超聲顯微鏡能夠檢測材料的哪些缺陷。
 

　　一、雜質顆粒缺陷檢測
 

　　很多半導體設備由于其工藝技術較為復雜，生產技術較為特殊，因此生產出的產品往往其內部會出現一些顆粒雜質，目前行業內對這些顆粒雜質都有著較為嚴格的標準，超出一定范圍的顆粒雜質基本上可以判斷該半導體產品的質量出現了較大問題，而超聲掃描顯微鏡能夠精確地檢測出產品中顆粒雜質的數量和范圍，對產品的質量帶來了良好的保障。
 

　　二、內部裂紋缺陷檢測
 

　　在一些做工精密的電器元件器或者半導體產品中，內部裂紋是經常出現的一種產品質量問題。超聲掃描顯微鏡能夠通過超聲波的阻抗來對產品內部的細微裂紋進行檢測，從而有效的將內部出現裂紋的產品篩選出來，避免有質量問題的產品流入到市場中。
 

　　三、內部分層缺陷檢測
 

　　內部分層缺陷也是半導體和電子元器件中經常會出現的問題，在過去傳統的超聲波檢測設備對于內部分層缺陷的檢測始終有不夠精確的問題，而超聲掃描顯微鏡的出現很好的彌補了分層缺陷檢測的空白，并且檢測的精確度也*。